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题名:
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微型计算机测控技术 / 李贵山主编 , |
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ISBN:
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7-111-09764-5 价格： CNY25.00 |
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语种:
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chi |
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载体形态:
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289页 26cm |
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出版发行:
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出版地： 北京 出版社： 机械工业出版社 出版日期： 2002 |
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内容提要:
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本书全面系统地讲述了微机在工业过程测试和控制中的软、硬件技术。主要内容有:微机测控系统的组成、分类及发展,检测技术的基本知识与误差理论,常用传感器与应用技术,常用检测程序的设计与实现等。 |
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主题词:
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微型计算机 计算机控制 |
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主题词:
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微型计算机 |
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主题词:
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计算机控制 |
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中图分类法:
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TP273 版次： 4 |
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主要责任者:
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李贵山 主编 |
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附注:
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高职高专机电类规划教材 |