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题名:
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几何量公差配合与技术测量 / 晏初宏主编 , |
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ISBN:
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978-7-5478-0917-4 价格： CNY38.50 |
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语种:
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chi |
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载体形态:
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333页 图 26cm |
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出版发行:
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出版地： 上海 出版社： 上海科学技术出版社 出版日期： 2011 |
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内容提要:
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本书共11章,围绕光滑圆柱的尺寸公差与配合、几何量测量技术和几何公差与几何误差检测等核心知识,介绍了光滑圆柱的尺寸公差与配合、几何量测量技术、几何公差与几何误差检测、表面粗糙度轮廓及其检测、圆锥公差与检测、圆柱螺纹公差与检测、圆柱齿轮公差与检测、键和花键联结的公差与检测以及尺寸链等内容。 |
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主题词:
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机械元件 尺寸公差 |
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主题词:
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机械元件 技术测量 |
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主题词:
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机械元件 |
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主题词:
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尺寸公差 |
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主题词:
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技术测量 |
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中图分类法:
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TG801 版次： 4 |
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主要责任者:
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晏初宏 主编 |
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附注:
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高等职业技术教育“十二五”规划教材(应用型本科适用) |