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题名:
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测试成熟度模型集成 / Erik van Veenendaal,Brian Wells著 , 李燕[等]译 |
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ISBN:
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978-7-302-34026-3 价格： CNY29.00 |
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语种:
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chi |
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载体形态:
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198页 26cm |
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出版发行:
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出版地： 北京 出版社： 清华大学出版社 出版日期： 2014 |
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内容提要:
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本书内容包括测试成熟度模型集成(TMMi),TMMi的成熟度级别,TMMi的结构等。 |
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主题词:
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软件 测试 |
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中图分类法:
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TP311.55 版次： 5 |
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其它题名:
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测试过程改进指南 |
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主要责任者:
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温尼戴尔 著 |
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主要责任者:
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威尔 著 |
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次要责任者:
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李燕 译 |
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附注:
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21世纪高等学校规划教材 软件工程 |